Analysen der Oberflächen- und Werkstoffstruktur zur mikrostrukturellen Charakterisierung von Werkstoffen.
Die Oberflächenanalyse von Intertek beinhaltet die Partikelanalyse und -identifizierung, u. a. die Elementanalyse fester Stoffe, die Ermittlung von Verunreinigungen und die Identifizierung physischer und chemischer Mängel. Die Analyse der Oberflächensensibilität umfasst außerdem die Dünnschichtanalyse, die Tiefenprofilierung, Penetrationsuntersuchungen und Sauberkeitsuntersuchungen. Unsere Labore für Oberflächenanalysen bieten u.a. analytisches Fachwissen zur Unterstützung von Forschung, Forensik, Beseitigung von Störungen und Qualitätskontrolle.
Oberflächen- und Mikrostrukturanalyse Techniken:
- Rasterelektronenmikroskopie, SEM
- Rasterkraftmikroskopie, AFM
- Röntgen-Fotoelektronen-Spektroskopie, XPS
- Übertragungselektronenmikroskopie, TEM
- Bildanalyse
- Rastersondenmikroskopie, SPM
- Optische Mikroskopie
- Auger-Elektronenspektroskopie, AES
- Röntgenbeugungsanalyse (XRD)
- Cryo-elektronenmikroskopische Abbildungsverfahren
- SSIMS Statische Sekundärionen-Massenspektrometrie (Oberflächen-SIMS)
- Vertikalmessung, Phasenverschiebungsinterferometrie
Oberflächenanalyse umfasst:
- Oberflächen- und Schnittstellenforschung
- Mikroskopische Analyse
- Werkstoffanalyse und -prüfung
- Nano-Werkstoffanalyse und Forschung
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